仪器名称

SEM

设备用途

1.观察微观形貌

2.进行微区成分分析和显微织构分析

技术指标

肖特基场发射电子枪

高压: 1 - 30 kV

探测器:

- 透镜内二次电子探测器 (TLD-SE)

- Everhardt-Thornley 二次电子探测器

- 低真空二次电子探测器 (LVD)

- 定向背散射探测器 (DBS)

- UHR 低真空二次探测器 (Helix 探测器)

高真空模式分辨率: 

- 1.0 nm at 15 kV

- 1.4 nm at 1 kV

 电子束减速功能

放大倍数: 300,000x

样品台倾转角度: -15°/+75°

能量色散X射线探测器 (EDS)

- 型号: Oxford X-max 50

- 分辨率: 127 eV (Mn Kα)

- 元素范围: Be4 - U92

- 定性分析、定量分析、线扫描、面扫描

电子背散射衍射探测器 (EBSD)

- 型号: Oxford Nordlys F+

- 微区显微织构分析

测试项目/价格

面议