仪器名称

透射电子显微镜

品牌/生产国

日本 

规格型号

JEM-F200

参数指标/适用范围 

点分辨率≤ 0.23 nm

晶格分辨率≤ 0.104 nm

STEM HAADF分辨：≤ 0.16 nm

TEM模式束斑尺寸：1-20 nm

Probe模式束斑尺寸：0.5-20 nm

测试项目/价格

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